丹沢 徹 教授（電気電子工学系列）がSymposium on VLSI Technology and Circuitsにて2023 VLSI Test of Time Awardを受賞

丹沢 徹 教授（電気電子工学系列）がSymposium on VLSI Technology and Circuitsにて2023 VLSI Test of Time Awardを受賞しました。

"Test of Time Award"はVLSI Symposiumによる賞で、時の試練（Test of Time）に耐え歴史にその名を刻んだ論文を表彰するものです。10年以上前に当該シンポジウムで発表され、この分野に永続的な影響を与えた論文（「テクノロジ」と「回路」の分野から毎年各1件）が表彰されています。
https://www.vlsisymposium.org/test-of-time-award

受賞対象論文: "A CMOS Band-Gap Reference Circuit with Sub 1V Operation"

Symposium on VLSI Technology and Circuits HP:
https://www.vlsisymposium.org/

丹沢研究室 HP:
https://wwp.shizuoka.ac.jp/tanzawa-lab/