電気電子工学科の山下 貴史君、電気電子工学専攻の有川 徹君(大橋研究室)、大橋 剛介准教授(電気電子工学科)が、精密工学会画像応用技術専門委員会・外観検査アルゴリズムコンテスト2009(2009年12月3日表彰式)にて、優秀賞を受賞しました。

電気電子工学科の山下 貴史君、電気電子工学専攻の有川 徹君(大橋研究室)、大橋 剛介准教授(電気電子工学科)が、精密工学会画像応用技術専門委員会・外観検査アルゴリズムコンテスト2009(2009年12月3日表彰式)にて、優秀賞を受賞しました。

大橋研究室HP http://www.ipc.shizuoka.ac.jp/~tegooha/
精密工学会 画像応用技術専門委員会 http://www.tc-iaip.org/index.html

写真:受賞した表彰状

電気電子工学科の山下 貴史君、電気電子工学専攻の有川 徹君(大橋研究室)、大橋 剛介准教授(電気電子工学科)が、精密工学会画像応用技術専門委員会・外観検査アルゴリズムコンテスト2009(2009年12月3日表彰式)にて、優秀賞を受賞しました。
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電気電子工学科の山下 貴史君、電気電子工学専攻の有川 徹君(大橋研究室)、大橋 剛介准教授(電気電子工学科)が、精密工学会画像応用技術専門委員会・外観検査アルゴリズムコンテスト2009(2009年12月3日表彰式)にて、優秀賞を受賞しました。
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