電気電子工学コース 中井康補さん(大橋研究室)が外観検査アルゴリズムコンテスト2021において学生奨励賞を受賞しました

電気電子工学コース 中井康補さん(大橋研究室)が、2021年12月3日に 精密工学会画像応用技術専門委員会主催の外観検査アルゴリズムコンテスト2021 において「学生奨励賞」を受賞しました。

受賞題目:3次元領域拡張による部品抽出と多視点画像による分類及び異常検知

精密工学会 画像応用技術専門委員会HP:
http://www.tc-iaip.org/

大橋 剛介 教授:
https://tdb.shizuoka.ac.jp/RDB/public/Default2.aspx?id=10404&l=0

電気電子工学コース 中井康補さん(大橋研究室)が外観検査アルゴリズムコンテスト2021において学生奨励賞を受賞しました
賞状(クリックで拡大します)

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