電気電子工学系列 大橋 剛介教授の研究グループが外観検査アルゴリズムコンテスト2020において理研ボクセル賞を受賞しました

工学部 電気電子工学科4年 中井 康補さん(大橋 剛介研究室)、工学専攻電気電子工学コース 修士2年 大薮 達也さん(同研究室)、工学領域電気電子工学系列 大橋 剛介教授が外観検査アルゴリズムコンテスト2020(主催:精密工学会画像応用技術専門委員会、共催:国立研究開発法人理化学研究所ボクセル情報処理システム研究チーム)において「理研ボクセル賞」を受賞しました。

受賞題目:「Watershedによる領域分割と2段階ランダムフォレストによる工業製品分類」

精密工学会 画像応用技術専門委員会 HP:
http://www.tc-iaip.org/

理化学研究所 バトンゾーン研究推進プログラム ボクセル情報処理システム研究 チームHP:
https://www.riken.jp/research/labs/bzp/voxel_eng/index.html

大橋 剛介 教授:
https://tdb.shizuoka.ac.jp/RDB/public/Default2.aspx?id=10404&l=0

電気電子工学系列 大橋 剛介教授の研究グループが外観検査アルゴリズムコンテスト2020において理研ボクセル賞を受賞しました
賞状(クリックで拡大します)

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