電気電子工学科4年 中井 康補さん(大橋 剛介研究室)と電気電子工学コース 修士2年 大薮 達也さん(同研究室)が外観検査アルゴリズムコンテスト2020において学生奨励賞を受賞しました

工学部 電気電子工学科4年 中井 康補さん(大橋 剛介研究室)と工学専攻 電気電子工学コース 修士2年 大薮 達也さん(同研究室)が、2020年12月3日に精密工学会画像応用技術専門委員会主催の外観検査アルゴリズムコンテスト2020において学生奨励賞を受賞しました。

受賞題目:「Watershedによる領域分割と2段階ランダムフォレストによる工業製品分類」

精密工学会 画像応用技術専門委員会 HP:
http://www.tc-iaip.org/

大橋 剛介 教授:
https://tdb.shizuoka.ac.jp/RDB/public/Default2.aspx?id=10404&l=0

電気電子工学科4年 中井 康補さん(大橋 剛介研究室)と電気電子工学コース 修士2年 大薮 達也さん(同研究室)が外観検査アルゴリズムコンテスト2020において学生奨励賞を受賞しました
賞状(中井 康補さん)(クリックで拡大します)

電気電子工学科4年 中井 康補さん(大橋 剛介研究室)と電気電子工学コース 修士2年 大薮 達也さん(同研究室)が外観検査アルゴリズムコンテスト2020において学生奨励賞を受賞しました
賞状(大薮 達也さん)(クリックで拡大します)

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