電気電子工学専攻 修士1年 栗田 直人君(大橋 剛介研究室)、電気電子工学科の大橋 剛介准教授が、精密工学会 画像応用技術専門委員会より、外観検査アルゴリズムコンテスト2012「最優秀賞」を受賞しました。

電気電子工学専攻 修士1年 栗田 直人君(大橋 剛介研究室)、電気電子工学科の大橋 剛介准教授が、精密工学会 画像応用技術専門委員会より、外観検査アルゴリズムコンテスト2012「最優秀賞」を受賞しました。表彰式は、2012年12月6日に執り行われました。

精密工学会 画像応用技術専門委員会 HP:
http://www.tc-iaip.org/algorithm.html

大橋 剛介研究室HP:
http://www.ipc.shizuoka.ac.jp/~tegooha/


受賞した表彰状(大橋准教授)(クリックで拡大します)


受賞した表彰状(栗田君)(クリックで拡大します)

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