電気電子工学科4年生 栗田 直人君(大橋 剛介研究室)が、精密工学会画像応用技術専門委員会より、外観検査アルゴリズムコンテスト2011「学生奨励賞」を受賞しました。

電気電子工学科4年生 栗田 直人君(大橋 剛介研究室)が、精密工学会画像応用技術専門委員会より、外観検査アルゴリズムコンテスト2011「学生奨励賞」を受賞しました。表彰式は、2011年12月8日に執り行われました。

精密工学会 画像応用技術専門委員会HP:
http://www.tc-iaip.org/index.html

大橋 剛介研究室HP:
http://www.ipc.shizuoka.ac.jp/~tegooha/


受賞した表彰状(クリックで拡大します)

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